Бакалавриат
2024/2025
Научно-исследовательский семинар: рентгеновский и электронно-микроскопический практикумы
Статус:
Курс обязательный (Физика)
Направление:
03.03.02. Физика
Где читается:
Факультет физики
Когда читается:
3-й курс, 2 модуль
Формат изучения:
без онлайн-курса
Охват аудитории:
для своего кампуса
Преподаватели:
Рыбченко Оксана Геннадьевна
Язык:
русский
Кредиты:
3
Программа дисциплины
Аннотация
Целями освоения дисциплины являются: • практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии; • освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников); • знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе; • ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.
Цель освоения дисциплины
- практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии;
- освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников);
- знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе;
- ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.
Содержание учебной дисциплины
- Фотометоды. Метод Лауэ, метод вращения (качания), метод Дебая.
- Рентгеновская порошковая дифрактометрия
- Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов.
- Электронная просвечивающая и сканирующая микроскопия
Промежуточная аттестация
- 2024/2025 2nd module0.4 * Лабораторный практикум + 0.3 * Написание отчета + 0.3 * защита отчета по работе
Список литературы
Рекомендуемая основная литература
- Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2011). Elements of Modern X-ray Physics (Vol. 2nd ed). Hoboken: Wiley. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=391348
- Murphy, B. M., & Seeck, O. H. (2014). X-Ray Diffraction : Modern Experimental Techniques. Boca Raton, FL: Pan Stanford. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=957532
- Илюшин, А. С. Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 327 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04316-7. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438402 (дата обращения: 28.08.2023).
- Илюшин, А. С. Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 299 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04324-2. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438750 (дата обращения: 28.08.2023).
- Суворов, Э. В. Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 28.08.2023).
Рекомендуемая дополнительная литература
- Garmai, A. V., & Oskolok, K. V. (2018). Development of the Method of Calibration Equations for the X-Ray Fluorescence Analysis of Multicomponent Samples in the Presence of Undetectable Elements. Journal of Analytical Chemistry, 73(7), 631–640. https://doi.org/10.1134/S1061934818070055
- X-ray Microcomputed Tomography (µCT) for Mineral Characterization: A Review of Data Analysis Methods. (2019). Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsbas&AN=edsbas.91816402
- Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учебник для вузов, Уманский, Я. С., 1982
- Современная кристаллография. Т. 1: Симметрия кристаллов : Методы структурной кристаллографии, Вайнштейн, Б. К., 1979
- Современная кристаллография. Т. 2: Структура кристаллов, Вайнштейн, Б. К., 1979
- Современная кристаллография. Т. 3: Образование кристаллов, Чернов, А. А., 1980
- Современная кристаллография. Т. 4: Физические свойства кристаллов, Шувалов, Л. А., 1981