Бакалавриат
2026/2027
Научно-исследовательский семинар "Сканирующая зондовая микроскопия"
ID 1167081
Статус:
Курс обязательный (Физика)
Где читается:
Факультет физики
Когда читается:
3-й курс, 3 модуль
Охват аудитории:
для своего кампуса
Преподаватели:
Ельцов Константин Николаевич
Язык:
русский
Кредиты:
4
Контактные часы:
40
Программа дисциплины
Аннотация
Основная идея курса – дать базовые понятия в области сканирующей зондовой микроскопии, включая сканирующую туннельную и атомно-силовую микроскопию атомного разрешения. Студенты также будут ознакомлены с современным состоянием в области применения сканирующей зондовой микроскопии для анализа пространственного распределения атомов и молекул, их электронного, колебательного и спинового состояния на поверхности металлов, полупроводников и изоляторов. В задачу курса также входит обучение чтению оригинальных статей, обучение понимания базовой идеи статьи, экспериментальных процедур, обсуждения и выводов, а также представления в виде презентаций и ведения научных дискуссий. Запланировано проведение практических занятий по обучению работы на сверхвысоковакуумном сканирующем туннельном микроскопе GPI-300.
Цель освоения дисциплины
- Основная идея – ознакомление с современным состоянием в области применения сканирующей зондовой микроскопии для анализа пространственного распределения атомов и молекул, их электронного, колебательного и спинового состояния на поверхности металлов, полупроводников и изоляторов.
Планируемые результаты обучения
- Обучение чтению оригинальных статей, обучение понимания базовой идеи статьи, экспериментальных процедур
- Ознакомление с современным состоянием в области применения сканирующей зондовой микроскопии для анализа пространственного распределения атомов и молекул, их электронного, колебательного и спинового состояния на поверхности металлов, полупроводников и изоляторов.
- Проведение практических занятий по обучению работы на сверхвысоковакуумном сканирующем туннельном микроскопе GPI-300
Содержание учебной дисциплины
- Основные физические принципы и технические решения сканирующей зондовой микроскопии
- Основные режимы работы: микроскопия vs. спектроскопия
- Принцип работы I/V-конвертера туннельного микроскопа на основе операционного усилителя.
- Синхронное детектирование, фильтрация шумов, численное и аппаратное дифференцирование.
- Сканирующая туннельная спектроскопия.
- Неупругое туннелирование электронов
- Частотно-модулированная атомно-силовая микроскопия
Элементы контроля
- Контрольная работаКонтрольная работа включает письменный ответ на 2 теоретических вопроса, О1.
- Экзамен
- Презентация
- Практикум
Промежуточная аттестация
- 2026/2027 3rd module0.15 * Контрольная работа + 0.1 * Практикум + 0.65 * Экзамен + 0.1 * Презентация
